Artículos / Referencia Bibliográfica

RevistaPlásticosModernos
Título:
La perfilometría óptica como técnica de caracterización topográfica no destructiva y sin contacto
Autores:
E. Afonso*, A. Martínez-Gómez, P. Tiemblo, N. García.
Afiliación:
Grupo HEMPOL, Departamento de Química Física de Polímeros. Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros (ICTP-CSIC)
ISSN:
0030 8708
Datos Fuente:
2020, 120 (758)
Resumen:

Una técnica de caracterización engloba el conjunto de procedimientos y recursos de los que se sirve la ciencia para el estudio de propiedades físicas, químicas y estructurales de forma objetiva, racional, sistemática y fiable. El avance incontenible de la ciencia demanda técnicas cada vez más avanzadas para la obtención de un conocimiento rápido y preciso de la realidad que nos rodea. En este trabajo, se presenta la perfilometría óptica como técnica de caracterización topográfica no destructiva y sin contacto, alternativa o complementaria a otras técnicas como la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) o la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). Además, se ilustra con ejemplos la utilidad de esta técnica en el desarrollo de nuevos materiales de naturaleza polimérica.

 

Palabras clave:
Perfilómetro óptico, topografía, parámetros de rugosidad, superhidrofobia, polímeros, propiedades avanzadas.
Abstract:

A characterization technique is the entire set of procedures and resources that science uses to study physical, chemical and structural properties in an objective, rational, systematic and reliable way. The unstoppable advance of science demands advanced techniques to obtain fast and accurate knowledge of the world around us. In this work, optical profilometry is presented as a non-destructive and non-contact technique as an alternative or complementary to other surface characterization techniques such as Scanning Electron Microscopy (SEM) or Atomic Force Microscopy (AFM). Furthermore, some examples of the utility of this technique in the development of new polymeric materials are illustrated.

 

Keyworks:
Optical profilometry, topography, roughness parameters, superhydrophobia, Polymers, Advanced properties.